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2by Amoss, J.W., Arnow, S., Audeh, N.F., Bandler, J.W., Brown, N.J., Clark, W.P., Dobson, J., Donaldson, M.R., Fletcher, L.B., Goubau, G., Gould, L., Hogg, H.A., Hyltin, T.M., Jellison, F., Jones, R.R., Konishi, Y., Kotzebue, K.L., Lavedan, L.J., Lee, M.J., Lim, J.-T., Lock, R.G., Loew, G.A., Marcuse, D., Meier, P.J., Perlman, B.S., Perlow, S.M., Pippin, J.E., Scanlan, S.O., Schneider, M.V., Schwering, F.K., Stanford, A.L., Steier, W.H., Sterzer, F., Thal, H.L., Torgow, E.N., Ward, C.S., Whicker, L.R., Williams, C.B., Wilmunder, R., Yuet Yee, H.Get full text
Published in IEEE transactions on microwave theory and techniques
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