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2by Jamil, A., Ziegler, T., Hufschmidt, P., Li, G., Lupin-Jimenez, L., Michel, T., Schneider, J., Alamre, A., Anton, G., Arnquist, I. J., Badhrees, I., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Brodsky, J. P., Brown, E., Burenkov, A., Chiu, M., Coon, M., Cote, M., Cree, W., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., Delaquis, S., Mesrobian-Kabakian, A. Der, Dilling, J., Ding, Y. Y., Echevers, J., Fabris, L., Fairbank, D., Farine, J., Fontaine, R., Fudenberg, D., Gallina, G., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E. V., Harris, D., Hasan, M., Heffner, M., HoBl, J., Hoppe, E. W., House, A., Hughes, M., Ito, Y., Iverson, A., Jiang, X. S., Karelin, A., Kaufman, L. J., Kravitz, S., Kumar, K. S., Lan, Y., Larson, A., Leonard, D. S., Li, Z., Licciardi, C., Lin, Y. H., Lv, P., MacLellan, R., Mong, B., Newby, R. J., Njoya, O., Odian, A., Oriunno, M., Ortega, G. S., Parent, S., Piepke, A., Pratte, J.-F., Qiu, D., Raguzin, E., Rao, T., Robinson, A., Rowson, P. C., Saldanha, R., Sangiorgio, S., Schubert, A., Skarpaas, K., Stekhanov, V., Stiegler, T., Sun, X. L., Todd, J., Tolba, T., Tsang, R., Tsang, T., Veenstra, B., Veeraraghavan, V., Visser, G., Vuilleumier, J.-L., Wang, Q., Weber, M., Wen, L. J., Wichoski, U., Wrede, G., Wu, S. X., Wu, W. H., Xia, Q., Yen, Y.-R., Zhang, X., Zhou, Y.Get full text
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3by Cao, G. F., Wen, L. J., Kharusi, S. Al, Anton, G., Badhrees, I., Barbeau, P. S., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Brodsky, J. P., Brown, E., Brunner, T., Mamahit, S. Byrne, Caden, E., Cao, L., Chambers, C., Cleveland, B., Coon, M., Craycraft, A., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., Mesrobian-Kabakian, A. Der, DeVoe, R., Vacri, M. L. Di, Ding, Y. Y., Echevers, J., Fairbank, D., Fairbank, W., Farine, J., Feyzbakhsh, S., Fucarino, A., Gallina, G., Giacomini, G., Goeldi, D., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E. V., Heffner, M., Hoppe, E. W., Hobl, J., House, A., Hughes, M., Iverson, A., Jamil, A., Jewell, M. J., Karelin, A., Kaufman, L. J., Koffas, T., Krucken, R., Kuchenkov, A., Leach, K. G., Leonard, D. S., Li, S., Li, Z., Licciardi, C., McElroy, T., Mong, B., Moore, D. C., Nakarmi, P., Natzke, C. R., Newby, R. J., Ning, Z., Njoya, O., Nolet, F., Nusair, O., Odgers, K., Odian, A., Oriunno, M., Orrell, J. L., Ortega, G. S., Parent, S., Pocar, A., Raguzin, E., Richman, M., Rossignol, T., Rowson, P. C., Roy, N., Runge, J., Saldanha, R., Sangiorgio, S., Stekhanov, V., Tarka, M., Totev, T. I., Tsang, R., Tsang, T., Vachon, F., Veeraraghavan, V., Vivo-Vilches, C., Wager, T., Walent, M., Wang, Q., Wei, W., Wu, S. X., Wu, W. H., Wu, X., Yang, H., Yang, L., Zeldovich, O., Zhou, Y.Get full text
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4by Perajarvi, K., Hakala, J., Jokinen, A., Moore, I.D., Penttila, H., Pollanen, R., Saastamoinen, A., Toivonen, H., Turunen, J., Aysto, J.Get full text
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5by Swift, G.M., Rezgui, S., George, J., Carmichael, C., Napier, M., Maksymowicz, J., Moore, J., Lesea, A., Koga, R., Wrobel, T.F.Get full text
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6by Sangkoo Hahn, Elphic, R., Murphy, T., Hodgson, M., Byrd, R., Longmire, J., Lawrence, D., Barraclough, B., Fuller, K., Prettyman, T., Meier, M., Dors, E., Funsten, H., Belian, R., Patrick, D., Moore, T., Sweet, M., Burczyk, L., Williford, R., Clanton, C.Get full text
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8by Anulli, F., Bagnasco, S., Baldini, R., Band, H.R., Bionta, R., Brau, J.E., Brigljevic, V., Buzzo, A., Calcaterra, A., Carpinelli, M., Cartaro, C., Cavallo, N., Crosetti, G., de Sangro, R., De Nardo, G., Eichenbaum, A., Fabozzi, F., Falciai, D., Ferrarotto, F., Ferroni, F., Finocchiaro, G., Forti, F., Frey, R., Gatto, C., Grauges, E., Iwasaki, M., Johnson, J.R., Lange, D.J., Lista, L., Lo Vetere, M., Lu, C., Macri, M., Messner, R., Moore, T.B., Morganti, S., Neal, H., Neri, N., Palano, A., Paoloni, E., Paolucci, P., Passaggio, S., Pastore, F., Patteri, P., Peruzzi, I., Piccolo, M., Piccolo, D., Piredda, G., Robutti, E., Roodman, A., Santroni, A., Sciacca, C., Sinev, N.B., Strom, D., Soha, A., Tosi, S., Va'vra, J., Wisniewski, W.J., Wright, D.M., Xie, Y., Zallo, A.Get full text
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11by Armstrong, S., dos Anjos, A., Baines, J.T.M., Bee, C.P., Biglietti, M., Bogaerts, J.A., Boisvert, V., Bosman, M., Caron, B., Casado, P., Cataldi, G., Cavalli, D., Cervetto, M., Comune, G., Muino, P.C., De Santo, A., Di Mattia, A., Gomez, M.D., Dosil, M., Ellis, N., Emeliyanov, D., Epp, B., Falciano, S., Farilla, A., George, S., Ghete, V., Gonzalez, S., Grothe, M., Kabana, S., Khomich, A., Kilvington, G., Kostantinidis, N., Kootz, A., Lowe, A., Luci, C., Luminari, L., Maeno, T., Marzano, F., Masik, J., Meessen, C., Mello, A.G., Merino, G., Moore, R., Morettini, P., Negri, A., Nikitin, N., Nisati, A., Padilla, C., Panikashvili, N., Parodi, F., Pasqualucci, E., Reale, V.P., Pinfold, J.L., Pinto, P., Qian, Z., Resconi, S., Rosati, S., Sanchez, C., Santamarina, C., Scannicchio, D.A., Schiavi, C., Segura, E., de Seixas, J.M., Sivoklokov, S., Soluk, R., Stefanidis, E., Sushkov, S., Sutton, M., Tapprogge, S., Thomas, E., Touchard, F., Pinto, B.V., Vercesi, V., Werner, P., Wheeler, S., Wickens, F.J., Wiedenmann, W., Wielers, M., Zobernig, H.Get full text
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16by Bennett, M.J., Bernardin, J., Boissevain, J., Britton, C., Chang, J., Clark, D., Conway, R., Cunningham, R., Emery, M., Ericson, N., Fung, S.-Y., Hahn, S., Van Hecke, H., Jaffe, D., Kang, J.-H., Kim, S.-Y., Kim, Y.-G., Lind, R., Marek, L., McCabe, K., Moore, T., Park, J.-H., Richardson, G., Ryu, S.-S., Schlei, B., Seto, R., Shiina, T., Simon-Gillo, J., Simpson, M., Smith, G., Sullivan, J.P., Takahashi, Y., Wintenberg, A., Xu, G.Get full text
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17by Abbott, B., Adams, D., Armstrong, T., Atac, M., Baumbaugh, A., Baumbaugh, B., Binkley, M., Bird, S., Bishop, J., Biswas, N., Bross, A.D., Buchanan, C., Cason, N., Chaney, R., Chrisman, D., Chung, M., Cline, D., Collins, G., Corcoran, M., Davis, D., Davies, R., Elias, J., Fenker, H., Fenyves, E., Finley, D., Foster, G.W., Goldberg, H., Hammack, H., Hasan, A., Heppelmann, S., Jaques, J., Jesik, R., Kauffman, J., Kehoe, R., Kelley, C., Keely, M., Kenney, V., Kephart, R., Kim, C., Koltick, D., Kolonko, J., Kubic, J., Lewis, R.A., LoSecco, J., Lowery, B., Marchant, J., McIlwain, R., Margulies, S., Mendez, H., Miettenen, H., Moore, R., Mountain, R.J., Oh, B., Orgeron, J., Park, H., Park, J., Passaneau, J., Pla-Dalmau, A., Rivetta, C., Ruchti, R., Scalise, R., Schmitz, J., Shephard, W., Shibata, E., Skeens, J., Smith, G.A., Solomon, J., Thomas, J., Tkaczyk, S., Toothacker, W., Vaca, F., Vandergriff, D., Wagner, R., Warchol, J., Wayne, M., Whitmore, J.Get full text
Published in IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States)
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